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| 品牌YOKOGAWA | 有效期至長期有效 | 最后更新2021-05-20 16:52 |
| 品牌keysight | 參數26.5 | 產地美國 |
| 瀏覽次數325 |
YOKOGAWA AQ6317B橫河頻譜分析儀
YOKOGAWA AQ6317B橫河頻譜分析儀AQ6317C
附加的功能：
50 GHz WDM信號的寬動態范圍：動態范圍在峰值±0.4 nm處為70 dB，在峰值±0.2 nm處為60 dB。
高分辨率測量通過間隔為50 GHz的WDM系統實現了寬動態范圍。
高波長精度：在1520至1580 nm處提供±0.02 nm波長精度，在1580至1620 nm處提供±0.04 nm，具有±0.01 nm波長線性度，使其特別適用于高精度損耗波長特性和WDM器件的其他評估。
波長刻度表示在空氣和真空中。
高波長分辨率：達到0.015 nm的波長分辨率。
多種分析功能：WDM和其他光學設備（LD，LED，FBG等）的分析功能
同步掃描：結合使用AQ4321可調激光源，可以通過高速同步掃描獲得更高的波長分辨率/更大的動態范圍
高靈敏度：高靈敏度允許測量低至-90 dBm的光，覆蓋1200至1650 nm。
低偏振相關性：因為偏振相關性可低至±0.05 dB，所以可以精確地進行諸如光放大器增益之類的測量。
高水平精度：精度在±0.3 dB之內。
高功率測量：z大 +20 dBm（100毫瓦）
即使沒有光衰減器，也可以直接測量光放大器的高功率輸出。
9.4英寸彩色LCD
脈沖光可以測量
三個獨立的跟蹤記憶
規格
適用光纖：SMF，GI（50/125 μm）
測量波長范圍：600至1750 nm）
波長精度：±0.02 nm（1520至1580 nm，使用內置參考光源校準后）；±0.04 nm（在使用內置參考光源校準后為1580至1620 nm）；±0.5 nm（600至1750 nm）
波長線性度：±0.01 nm（1520至1580 nm）; ±0.02 nm（1580至1620 nm）
波長重復性：±0.005 nm（1分鐘）
波長分辨率：z大 分辨率：0.015 nm或更高（1520至1620 nm，分辨率設置：0.01 nm）
分辨率設置：0.01、0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0 nm
分辨率精度：±5％：（ 1300至1650 nm，分辨率：0.05 nm或更高，分辨率校正：ON）
測量電平范圍：-90至+20 dBm（1200至1650 nm，靈敏度：HIGH3）; -80至+20 dBm（1000至1200 nm，靈敏度：HIGH3）; -60至+20 dBm（600至1000 nm，靈敏度：HIGH3）
電平精度2，3）±0.3 dB（1310/1550 nm，輸入：-30 dBm，靈敏度：HIGH1-3）
電平線性度：±0.05 dB（輸入：+10至-50 dBm，靈敏度：HIGH1-3）
電平平坦度：±0.1 dB（1520至1580 nm），±0.2 dB（1580至1620 nm）
偏振相關性：±0.05 dB（1550/1600 nm），±0.05 dB典型值 （1310納米）
動態范圍：60 dB（1523 nm，峰值±0.2 nm，分辨率：0.01 nm）; 70 dB（1523 nm，峰值±0.4 nm，分辨率：0.01 nm）; 45 dB（1523 nm，峰值±0.2 nm，分辨率：0.1 nm）
掃描時間：約 500 ms（Span：100 nm以下，靈敏度：NORM，HOLD，平均：1，501個樣本，分辨率校正：OFF）; 大約 0.5分鐘（跨度：100 nm以下，靈敏度：HIGH2，平均：1，501個樣本，無信號）
功能
自動測量：程序功能（20個程序，200步），長期測量功能
設置測量條件：跨度設置：0至1200 nm
測量靈敏度設置：NORMAL HOLD / AUTO，MID，HIGH1 / 2/3
平均設置次數：1至1000次
樣本編號設置：11至20001，自動
自動設定測量條件
標記間掃動功能
0 nm掃描功能
脈沖光測量功能
空氣/真空波長測量功能
TLS同步測量功能
軌跡顯示
電平刻度設置：0.1至10 dB / div，線性
同時顯示3條獨立跡線
z大/z小 保持顯示
滾動平均顯示
軌跡間計算顯示
歸一化顯示
曲線擬合顯示
3D顯示
分割顯示
功率密度顯示，％顯示，dB / km顯示
橫軸刻度的頻率顯示
數據分析
WDM波形分析（波長/電平/ SNR列表顯示），光纖放大器分析（GAIN / NF，單/多通道），PMD分析，光學濾波器分析，DFB-LD分析，FP-LD分析，LED分析，SSMR分析，峰搜索，谷底搜索，光譜寬度搜索，陷波寬度搜索
Delta標記（z大200），線標記（分析范圍規格）
長期測量結果的圖形顯示
其他
自波長校準功能（使用內置參考光源）
波長/電平補償功能，標簽功能，幫助功能
記憶
內置FDD：3.5英寸2HD
內部存儲器：32條跡線，20個程序
文件格式：跟蹤文件，程序文件，測量條件文件，文本文件（跟蹤，分析數據等），圖形文件（BMP，TIFF）
數據輸出：打印機內置高速打印機
界面
遙控器：GP-IB（2個端口）；TLS控制接口（TTL）
掃描觸發輸入（TTL）
采樣使能輸入（TTL）
采樣觸發輸入（TTL）
模擬輸出（0至5 V）
視訊輸出（VGA）
顯示：9.4英寸彩色LCD（分辨率：640 x 480點）
光纖連接器：FC（標準）
電源要求：AC 100至120/200至240 V，50/60 Hz
環境條件
工作溫度：5至40oC
儲存溫度：-10至+50oC
濕度：80％RH以下（無凝結）
尺寸和質量：約 425（寬）x 222（高）x 450（深）毫米
AQ6317B是一款高級光譜分析儀，適用于廣泛的應用，包括光源評估，光學設備中損耗波長特性的測量以及WDM（波分復用）系統的波形分析。
尤其是在C波段和L波段，該裝置可實現高波長精度和波長線性度，并可評估用于WDM的光學設備。分析功能使操作和擴展性變得簡單。
AQ6317B包含用于光譜分析儀的z新Ando技術。下一代的參考設備。
與以前的模型相比，AQ6317B的波長精度已提高到±20 pm，并且也指定用于L波段。改進了WDM分析功能和陷波寬度分析功能，并新增了多通道NF分析功能和光學濾波器分析功能。它與其他改進（例如加速掃描）一起使用變得更加容易。
附加的功能：
50 GHz WDM信號的寬動態范圍：動態范圍在峰值±0.4 nm處為70 dB，在峰值±0.2 nm處為60 dB。
高分辨率測量通過間隔為50 GHz的WDM系統實現了寬動態范圍。
高波長精度：在1520至1580 nm處提供±0.02 nm波長精度，在1580至1620 nm處提供±0.04 nm，具有±0.01 nm波長線性度，使其特別適用于高精度損耗波長特性和WDM器件的其他評估。
波長刻度表示在空氣和真空中。
高波長分辨率：達到0.015 nm的波長分辨率。
多種分析功能：WDM和其他光學設備（LD，LED，FBG等）的分析功能
同步掃描：結合使用AQ4321可調激光源，可以通過高速同步掃描獲得更高的波長分辨率/更大的動態范圍
高靈敏度：高靈敏度允許測量低至-90 dBm的光，覆蓋1200至1650 nm。
低偏振相關性：因為偏振相關性可低至±0.05 dB，所以可以精確地進行諸如光放大器增益之類的測量。
高水平精度：精度在±0.3 dB之內。
高功率測量：z大 +20 dBm（100毫瓦）
即使沒有光衰減器，也可以直接測量光放大器的高功率輸出。
9.4英寸彩色LCD
脈沖光可以測量
三個獨立的跟蹤記憶
規格
適用光纖：SMF，GI（50/125 μm）
測量波長范圍：600至1750 nm）
波長精度：±0.02 nm（1520至1580 nm，使用內置參考光源校準后）；±0.04 nm（在使用內置參考光源校準后為1580至1620 nm）；±0.5 nm（600至1750 nm）
波長線性度：±0.01 nm（1520至1580 nm）; ±0.02 nm（1580至1620 nm）
波長重復性：±0.005 nm（1分鐘）
波長分辨率：z大 分辨率：0.015 nm或更高（1520至1620 nm，分辨率設置：0.01 nm）
分辨率設置：0.01、0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0 nm
分辨率精度：±5％：（ 1300至1650 nm，分辨率：0.05 nm或更高，分辨率校正：ON）
測量電平范圍：-90至+20 dBm（1200至1650 nm，靈敏度：HIGH3）; -80至+20 dBm（1000至1200 nm，靈敏度：HIGH3）; -60至+20 dBm（600至1000 nm，靈敏度：HIGH3）
電平精度2，3）±0.3 dB（1310/1550 nm，輸入：-30 dBm，靈敏度：HIGH1-3）
電平線性度：±0.05 dB（輸入：+10至-50 dBm，靈敏度：HIGH1-3）
電平平坦度：±0.1 dB（1520至1580 nm），±0.2 dB（1580至1620 nm）
偏振相關性：±0.05 dB（1550/1600 nm），±0.05 dB典型值 （1310納米）
動態范圍：60 dB（1523 nm，峰值±0.2 nm，分辨率：0.01 nm）; 70 dB（1523 nm，峰值±0.4 nm，分辨率：0.01 nm）; 45 dB（1523 nm，峰值±0.2 nm，分辨率：0.1 nm）
掃描時間：約 500 ms（Span：100 nm以下，靈敏度：NORM，HOLD，平均：1，501個樣本，分辨率校正：OFF）; 大約 0.5分鐘（跨度：100 nm以下，靈敏度：HIGH2，平均：1，501個樣本，無信號）
功能
自動測量：程序功能（20個程序，200步），長期測量功能
設置測量條件：跨度設置：0至1200 nm
測量靈敏度設置：NORMAL HOLD / AUTO，MID，HIGH1 / 2/3
平均設置次數：1至1000次
樣本編號設置：11至20001，自動
自動設定測量條件
標記間掃動功能
0 nm掃描功能
脈沖光測量功能
空氣/真空波長測量功能
TLS同步測量功能
軌跡顯示
電平刻度設置：0.1至10 dB / div，線性
同時顯示3條獨立跡線
z大/z小 保持顯示
滾動平均顯示
軌跡間計算顯示
歸一化顯示
曲線擬合顯示
3D顯示
分割顯示
功率密度顯示，％顯示，dB / km顯示
橫軸刻度的頻率顯示
數據分析
WDM波形分析（波長/電平/ SNR列表顯示），光纖放大器分析（GAIN / NF，單/多通道），PMD分析，光學濾波器分析，DFB-LD分析，FP-LD分析，LED分析，SSMR分析，峰搜索，谷底搜索，光譜寬度搜索，陷波寬度搜索
Delta標記（z大200），線標記（分析范圍規格）
長期測量結果的圖形顯示
其他
自波長校準功能（使用內置參考光源）
波長/電平補償功能，標簽功能，幫助功能
記憶
內置FDD：3.5英寸2HD
內部存儲器：32條跡線，20個程序
文件格式：跟蹤文件，程序文件，測量條件文件，文本文件（跟蹤，分析數據等），圖形文件（BMP，TIFF）
數據輸出：打印機內置高速打印機
界面
遙控器：GP-IB（2個端口）；TLS控制接口（TTL）
掃描觸發輸入（TTL）
采樣使能輸入（TTL）
采樣觸發輸入（TTL）
模擬輸出（0至5 V）
視訊輸出（VGA）
顯示：9.4英寸彩色LCD（分辨率：640 x 480點）
光纖連接器：FC（標準）
電源要求：AC 100至120/200至240 V，50/60 Hz
環境條件
工作溫度：5至40oC
儲存溫度：-10至+50oC
濕度：80％RH以下（無凝結）
尺寸和質量：約 425（寬）x 222（高）x 450（深）毫米
AQ6317B是一款高級光譜分析儀，適用于廣泛的應用，包括光源評估，光學設備中損耗波長特性的測量以及WDM（波分復用）系統的波形分析。
尤其是在C波段和L波段，該裝置可實現高波長精度和波長線性度，并可評估用于WDM的光學設備。分析功能使操作和擴展性變得簡單。
AQ6317B包含用于光譜分析儀的z新Ando技術。下一代的參考設備。
與以前的模型相比，AQ6317B的波長精度已提高到±20 pm，并且也指定用于L波段。改進了WDM分析功能和陷波寬度分析功能，并新增了多通道NF分析功能和光學濾波器分析功能。它與其他改進（例如加速掃描）一起使用變得更加容易。
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