品牌YOKOGAWA | 有效期至長期有效 | 最后更新2021-05-20 16:52 |
品牌keysight | 參數26.5 | 產地美國 |
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YOKOGAWA AQ6317B橫河頻譜分析儀
YOKOGAWA AQ6317B橫河頻譜分析儀AQ6317C
附加的功能:
50 GHz WDM信號的寬動態范圍:動態范圍在峰值±0.4 nm處為70 dB,在峰值±0.2 nm處為60 dB。
高分辨率測量通過間隔為50 GHz的WDM系統實現了寬動態范圍。
高波長精度:在1520至1580 nm處提供±0.02 nm波長精度,在1580至1620 nm處提供±0.04 nm,具有±0.01 nm波長線性度,使其特別適用于高精度損耗波長特性和WDM器件的其他評估。
波長刻度表示在空氣和真空中。
高波長分辨率:達到0.015 nm的波長分辨率。
多種分析功能:WDM和其他光學設備(LD,LED,FBG等)的分析功能
同步掃描:結合使用AQ4321可調激光源,可以通過高速同步掃描獲得更高的波長分辨率/更大的動態范圍
高靈敏度:高靈敏度允許測量低至-90 dBm的光,覆蓋1200至1650 nm。
低偏振相關性:因為偏振相關性可低至±0.05 dB,所以可以精確地進行諸如光放大器增益之類的測量。
高水平精度:精度在±0.3 dB之內。
高功率測量:z大 +20 dBm(100毫瓦)
即使沒有光衰減器,也可以直接測量光放大器的高功率輸出。
9.4英寸彩色LCD
脈沖光可以測量
三個獨立的跟蹤記憶
規格
適用光纖:SMF,GI(50/125 μm)
測量波長范圍:600至1750 nm)
波長精度:±0.02 nm(1520至1580 nm,使用內置參考光源校準后);±0.04 nm(在使用內置參考光源校準后為1580至1620 nm);±0.5 nm(600至1750 nm)
波長線性度:±0.01 nm(1520至1580 nm); ±0.02 nm(1580至1620 nm)
波長重復性:±0.005 nm(1分鐘)
波長分辨率:z大 分辨率:0.015 nm或更高(1520至1620 nm,分辨率設置:0.01 nm)
分辨率設置:0.01、0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0 nm
分辨率精度:±5%:( 1300至1650 nm,分辨率:0.05 nm或更高,分辨率校正:ON)
測量電平范圍:-90至+20 dBm(1200至1650 nm,靈敏度:HIGH3); -80至+20 dBm(1000至1200 nm,靈敏度:HIGH3); -60至+20 dBm(600至1000 nm,靈敏度:HIGH3)
電平精度2,3)±0.3 dB(1310/1550 nm,輸入:-30 dBm,靈敏度:HIGH1-3)
電平線性度:±0.05 dB(輸入:+10至-50 dBm,靈敏度:HIGH1-3)
電平平坦度:±0.1 dB(1520至1580 nm),±0.2 dB(1580至1620 nm)
偏振相關性:±0.05 dB(1550/1600 nm),±0.05 dB典型值 (1310納米)
動態范圍:60 dB(1523 nm,峰值±0.2 nm,分辨率:0.01 nm); 70 dB(1523 nm,峰值±0.4 nm,分辨率:0.01 nm); 45 dB(1523 nm,峰值±0.2 nm,分辨率:0.1 nm)
掃描時間:約 500 ms(Span:100 nm以下,靈敏度:NORM,HOLD,平均:1,501個樣本,分辨率校正:OFF); 大約 0.5分鐘(跨度:100 nm以下,靈敏度:HIGH2,平均:1,501個樣本,無信號)
功能
自動測量:程序功能(20個程序,200步),長期測量功能
設置測量條件:跨度設置:0至1200 nm
測量靈敏度設置:NORMAL HOLD / AUTO,MID,HIGH1 / 2/3
平均設置次數:1至1000次
樣本編號設置:11至20001,自動
自動設定測量條件
標記間掃動功能
0 nm掃描功能
脈沖光測量功能
空氣/真空波長測量功能
TLS同步測量功能
軌跡顯示
電平刻度設置:0.1至10 dB / div,線性
同時顯示3條獨立跡線
z大/z小 保持顯示
滾動平均顯示
軌跡間計算顯示
歸一化顯示
曲線擬合顯示
3D顯示
分割顯示
功率密度顯示,%顯示,dB / km顯示
橫軸刻度的頻率顯示
數據分析
WDM波形分析(波長/電平/ SNR列表顯示),光纖放大器分析(GAIN / NF,單/多通道),PMD分析,光學濾波器分析,DFB-LD分析,FP-LD分析,LED分析,SSMR分析,峰搜索,谷底搜索,光譜寬度搜索,陷波寬度搜索
Delta標記(z大200),線標記(分析范圍規格)
長期測量結果的圖形顯示
其他
自波長校準功能(使用內置參考光源)
波長/電平補償功能,標簽功能,幫助功能
記憶
內置FDD:3.5英寸2HD
內部存儲器:32條跡線,20個程序
文件格式:跟蹤文件,程序文件,測量條件文件,文本文件(跟蹤,分析數據等),圖形文件(BMP,TIFF)
數據輸出:打印機內置高速打印機
界面
遙控器:GP-IB(2個端口);TLS控制接口(TTL)
掃描觸發輸入(TTL)
采樣使能輸入(TTL)
采樣觸發輸入(TTL)
模擬輸出(0至5 V)
視訊輸出(VGA)
顯示:9.4英寸彩色LCD(分辨率:640 x 480點)
光纖連接器:FC(標準)
電源要求:AC 100至120/200至240 V,50/60 Hz
環境條件
工作溫度:5至40oC
儲存溫度:-10至+50oC
濕度:80%RH以下(無凝結)
尺寸和質量:約 425(寬)x 222(高)x 450(深)毫米
AQ6317B是一款高級光譜分析儀,適用于廣泛的應用,包括光源評估,光學設備中損耗波長特性的測量以及WDM(波分復用)系統的波形分析。
尤其是在C波段和L波段,該裝置可實現高波長精度和波長線性度,并可評估用于WDM的光學設備。分析功能使操作和擴展性變得簡單。
AQ6317B包含用于光譜分析儀的z新Ando技術。下一代的參考設備。
與以前的模型相比,AQ6317B的波長精度已提高到±20 pm,并且也指定用于L波段。改進了WDM分析功能和陷波寬度分析功能,并新增了多通道NF分析功能和光學濾波器分析功能。它與其他改進(例如加速掃描)一起使用變得更加容易。
附加的功能:
50 GHz WDM信號的寬動態范圍:動態范圍在峰值±0.4 nm處為70 dB,在峰值±0.2 nm處為60 dB。
高分辨率測量通過間隔為50 GHz的WDM系統實現了寬動態范圍。
高波長精度:在1520至1580 nm處提供±0.02 nm波長精度,在1580至1620 nm處提供±0.04 nm,具有±0.01 nm波長線性度,使其特別適用于高精度損耗波長特性和WDM器件的其他評估。
波長刻度表示在空氣和真空中。
高波長分辨率:達到0.015 nm的波長分辨率。
多種分析功能:WDM和其他光學設備(LD,LED,FBG等)的分析功能
同步掃描:結合使用AQ4321可調激光源,可以通過高速同步掃描獲得更高的波長分辨率/更大的動態范圍
高靈敏度:高靈敏度允許測量低至-90 dBm的光,覆蓋1200至1650 nm。
低偏振相關性:因為偏振相關性可低至±0.05 dB,所以可以精確地進行諸如光放大器增益之類的測量。
高水平精度:精度在±0.3 dB之內。
高功率測量:z大 +20 dBm(100毫瓦)
即使沒有光衰減器,也可以直接測量光放大器的高功率輸出。
9.4英寸彩色LCD
脈沖光可以測量
三個獨立的跟蹤記憶
規格
適用光纖:SMF,GI(50/125 μm)
測量波長范圍:600至1750 nm)
波長精度:±0.02 nm(1520至1580 nm,使用內置參考光源校準后);±0.04 nm(在使用內置參考光源校準后為1580至1620 nm);±0.5 nm(600至1750 nm)
波長線性度:±0.01 nm(1520至1580 nm); ±0.02 nm(1580至1620 nm)
波長重復性:±0.005 nm(1分鐘)
波長分辨率:z大 分辨率:0.015 nm或更高(1520至1620 nm,分辨率設置:0.01 nm)
分辨率設置:0.01、0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0 nm
分辨率精度:±5%:( 1300至1650 nm,分辨率:0.05 nm或更高,分辨率校正:ON)
測量電平范圍:-90至+20 dBm(1200至1650 nm,靈敏度:HIGH3); -80至+20 dBm(1000至1200 nm,靈敏度:HIGH3); -60至+20 dBm(600至1000 nm,靈敏度:HIGH3)
電平精度2,3)±0.3 dB(1310/1550 nm,輸入:-30 dBm,靈敏度:HIGH1-3)
電平線性度:±0.05 dB(輸入:+10至-50 dBm,靈敏度:HIGH1-3)
電平平坦度:±0.1 dB(1520至1580 nm),±0.2 dB(1580至1620 nm)
偏振相關性:±0.05 dB(1550/1600 nm),±0.05 dB典型值 (1310納米)
動態范圍:60 dB(1523 nm,峰值±0.2 nm,分辨率:0.01 nm); 70 dB(1523 nm,峰值±0.4 nm,分辨率:0.01 nm); 45 dB(1523 nm,峰值±0.2 nm,分辨率:0.1 nm)
掃描時間:約 500 ms(Span:100 nm以下,靈敏度:NORM,HOLD,平均:1,501個樣本,分辨率校正:OFF); 大約 0.5分鐘(跨度:100 nm以下,靈敏度:HIGH2,平均:1,501個樣本,無信號)
功能
自動測量:程序功能(20個程序,200步),長期測量功能
設置測量條件:跨度設置:0至1200 nm
測量靈敏度設置:NORMAL HOLD / AUTO,MID,HIGH1 / 2/3
平均設置次數:1至1000次
樣本編號設置:11至20001,自動
自動設定測量條件
標記間掃動功能
0 nm掃描功能
脈沖光測量功能
空氣/真空波長測量功能
TLS同步測量功能
軌跡顯示
電平刻度設置:0.1至10 dB / div,線性
同時顯示3條獨立跡線
z大/z小 保持顯示
滾動平均顯示
軌跡間計算顯示
歸一化顯示
曲線擬合顯示
3D顯示
分割顯示
功率密度顯示,%顯示,dB / km顯示
橫軸刻度的頻率顯示
數據分析
WDM波形分析(波長/電平/ SNR列表顯示),光纖放大器分析(GAIN / NF,單/多通道),PMD分析,光學濾波器分析,DFB-LD分析,FP-LD分析,LED分析,SSMR分析,峰搜索,谷底搜索,光譜寬度搜索,陷波寬度搜索
Delta標記(z大200),線標記(分析范圍規格)
長期測量結果的圖形顯示
其他
自波長校準功能(使用內置參考光源)
波長/電平補償功能,標簽功能,幫助功能
記憶
內置FDD:3.5英寸2HD
內部存儲器:32條跡線,20個程序
文件格式:跟蹤文件,程序文件,測量條件文件,文本文件(跟蹤,分析數據等),圖形文件(BMP,TIFF)
數據輸出:打印機內置高速打印機
界面
遙控器:GP-IB(2個端口);TLS控制接口(TTL)
掃描觸發輸入(TTL)
采樣使能輸入(TTL)
采樣觸發輸入(TTL)
模擬輸出(0至5 V)
視訊輸出(VGA)
顯示:9.4英寸彩色LCD(分辨率:640 x 480點)
光纖連接器:FC(標準)
電源要求:AC 100至120/200至240 V,50/60 Hz
環境條件
工作溫度:5至40oC
儲存溫度:-10至+50oC
濕度:80%RH以下(無凝結)
尺寸和質量:約 425(寬)x 222(高)x 450(深)毫米
AQ6317B是一款高級光譜分析儀,適用于廣泛的應用,包括光源評估,光學設備中損耗波長特性的測量以及WDM(波分復用)系統的波形分析。
尤其是在C波段和L波段,該裝置可實現高波長精度和波長線性度,并可評估用于WDM的光學設備。分析功能使操作和擴展性變得簡單。
AQ6317B包含用于光譜分析儀的z新Ando技術。下一代的參考設備。
與以前的模型相比,AQ6317B的波長精度已提高到±20 pm,并且也指定用于L波段。改進了WDM分析功能和陷波寬度分析功能,并新增了多通道NF分析功能和光學濾波器分析功能。它與其他改進(例如加速掃描)一起使用變得更加容易。